冷熱沖擊試驗(yàn)箱高天免費(fèi)體驗(yàn)

冷熱沖擊試驗(yàn)箱高天免費(fèi)體驗(yàn)

　主要用途

　　冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)能模擬高溫與低溫之間的瞬間變化環(huán)境。從而判斷產(chǎn)品的可靠性及穩(wěn)定性能等參數(shù)是否合格。將提供給您預(yù)測(cè)和改進(jìn)產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性依據(jù)。用于檢測(cè)電子、汽車、橡膠、塑膠、航天科技、電子科技及通信器材等產(chǎn)品在反復(fù)冷熱變化下的抵抗能力。

冷熱沖擊試驗(yàn)箱

滿足以下標(biāo)準(zhǔn)：

　　GB/T10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫

　　GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫

　　GB/T5170.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則

　　GJB150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)

　　GJB150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第4部分：低溫試驗(yàn)

　　GJB150.5A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第5部分：溫度沖擊試驗(yàn)

　　GJB360B-2009電子及電氣元件試驗(yàn)方法方法107溫度沖擊試驗(yàn)

冷熱沖擊試驗(yàn)箱高天免費(fèi)體驗(yàn)

　　冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)區(qū)分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部分，各區(qū)之箱體釆*之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)。沖擊方式應(yīng)用風(fēng)路切換方式將溫度導(dǎo)入測(cè)試區(qū)，做冷熱沖擊測(cè)試。高溫沖擊或低溫沖擊時(shí)，Z大時(shí)間可達(dá)9999分鐘，Z大循環(huán)周期可達(dá)9999次。系統(tǒng)可作自動(dòng)循環(huán)沖擊或手動(dòng)選擇性沖擊并可設(shè)定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷沖熱沖啟始。冷卻采二元冷凍系統(tǒng)，降溫效果快速，冷卻方式為風(fēng)冷式或水冷式兩種。可連接電腦，記錄儀僅為選購(gòu)件。采用彩色中英文LCD觸控式圖控操作介面，操作簡(jiǎn)易